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    鐵電電晶體以等脈衝編程之神經網路與極化輔助脫陷阱
    (2021) 張劭華; Chang, Shao-Hua
    近幾年來半導體的領域中,鐵電材料與現今CMOS 製程相容,是非常熱門的研究主題,而鐵電氧化鉿鋯(HfZrO2, HZO)也已被廣泛的利用。本論文系統地研究了用於增強(Potentiation)/ 抑制(Depression)機器學習的等脈衝編程,以使用5nm厚的HZO鐵電電晶體實現非線性度(α_P= 1.25和α_D = -3.69)和高電導比率(> 103x)。顯示出電導比率和線性之間的權衡特性。記憶窗(memory window, MW)增強的較高剩餘極化(Pr)將導致電導比率增加,但會降低訓練曲線的線性度。對於HZO厚度從15nm到5nm的HZO,以50ns的脈衝寬度和較低的脈衝電壓執行等脈衝的優化學習條件。這些突出的優點為將來記憶體內計算(computing-in-memory, CIM)應用程序等新興應用提供了機會。 而記憶窗作為主要決定因子,我們也嘗試透過介電層(dielectric, DE)與鐵電層相對位置調變,由量測結果發現上層的DE與下層DE相比有較大的記憶窗,且2階的資料保存能力達103秒無衰退現象,可重複操作次數超過105個cycles。在確立了其元件的特性後,我們嘗試以不同的脈衝條件,令元件達成機器學習的效果。鐵電電晶體的學習曲線具有良好的線性與對稱性。 雙層鐵電電晶體(double-layer ferroelectric, DFE),以改善機器學習中權重更新的非線性。雙層非對稱之FeFET(HZO 5nm / Al2O3 0.5nm / HZO 10nm)具有2.3 V的記憶窗,可操作 >105的耐久性,並可保持 >104秒。FeFET新型極化輔助脫陷阱(polarization assisted de-trapping, PAD)方法,增強型學習曲線的非線性度(αp)可以降低到0.07。

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