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    通過掃描穿隧顯微鏡研究二硫化鉬缺陷的形成與其對電子特性的影響
    (2021) 温柏淯; Wen, Po-Yu
    二硫化鉬屬於層狀半導體中的過渡金屬二硫族化物,可透過層數改變其能隙大小,且層跟層之間屬於凡得瓦力作用,我們可以輕易地透過機械剝離來產生新的可研究的表面,一直以來都是電子元件的熱門材料。本次實驗我們在超高真空的環境下,利用掃描穿隧顯微鏡觀察天然二硫化鉬塊材的表面型態以及電性在四種情況下的變化,分別是機械剝離前的原始表面、機械剝離後的新鮮表面、機械剝離後曝氧8小時的表面以及機械剝離後置於大氣下7個月的表面。我們將二硫化鉬進行機械剝離後可以觀察到大量電子空乏的現象,此現象經過曝氧以及置於大氣下後幾乎退去。我們再來探討二硫化鉬的表面電性,曝氧後的二硫化鉬與置於大氣下的表面電性除了導帶的移動具有相似度以外,其表面態的特徵也吻合,藉此可以了解大氣中的氧氣是影響二硫化鉬表面電性的重要因素之一。透過本次實驗,我們了解表面缺陷以及環境的變化可以影響二硫化鉬的表面能帶結構,這將成為我們如何考量天然二硫化鉬作為半導體材料的重要調控條件之一。

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