Browsing by Author "邱千鳳"

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    利用掃描探針顯微鏡探測二氧化鈦奈米粒子
    (2007) 邱千鳳
    本實驗目的在利用原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)探測二氧化鈦奈米粒子的形貌；二氧化鈦粒子由台北科技大學所研發的改良式真空潛弧法(Arc-Submerged Nanoparticle Synthesis System, ASNSS)製備，製備出的奈米流體由不同的介電液收集著。筆者採取不同的取樣法與乾燥法，觀察奈米粒子在矽基底與銅/矽基底上是否有不同的聚集或分散行為；接著利用原子力顯微鏡本身內建軟體，分析粒子的尺寸。 利用原子力顯微鏡大氣系統在觀測上的優勢是：易於操作（不需抽真空）、解析度高，可看到樣品表面形貌與粗糙度，搭配分析軟體可作尺寸測量、grain分析與統計、三維顯示……等。但是缺點在於真空度不佳，對於樣品表面的乾淨度不易維持，所以欲達原子層級解析有困難，另外，取一張圖所需的時間長。 實驗結果顯示，排除原子解析度不可達的限制，原子力顯微鏡協助我們觀察TiO2奈米粒子在不同取樣方式的呈現結果，的確對我們的取樣方法的優缺判斷有其貢獻。合適的取樣方法標準是，以AFM影像掃瞄結果判斷：一為在微米尺度下（大尺度）粒子分佈均勻，而即使在小於微米尺度（奈米尺度）下有團簇行為依然是可以被接受的取樣方法；二為判斷粒子的尺寸大小是否為奈米粒子，即粒子徑度與高度均在100nm以下；或是形成的團簇粒子尺寸在微米以下，而且幾乎是均勻大小的尺寸。