Browsing by Author "郭峻銓"

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    以表面電漿共振技術探討電化學法之石墨烯氧化物去氧還原過程
    (2013) 郭峻銓; Kuo, Chun-Chuan
    表面電漿共振(surface plasmon resonance，SPR)技術利用表面電漿波(surface plasmon wave，SPW)可偵測固體表面物質的些微變化。本論文利用電化學循環伏安法(cyclic voltammetry，CV)還原石墨烯氧化物(graphene oxide，GO)並搭配SPR技術即時檢測GO的還原現象，其還原態則稱為「還原石墨烯氧化物(reduced graphene oxide，rGO)」。在去氧還原的過程中因為GO的折射率變化使得SPR角度產生位移現象。因此可藉由位移角度的變化量推測rGO的還原程度。 實驗流程首先在在金膜表面連結十八烷基硫醇(1-Octadecanethiol，ODT)，作為GO的連結層。然後將金膜浸泡於GO水溶液裡，使GO連結在金膜表面。使用電化學CV還原GO以得到rGO，還原過程中同時記錄SPR角位移。除了1層GO，本實驗另外製作多層GO，比較層數對於電化學還原法與SPR角變化的影響。最後以X光光電子能譜儀(X-ray photoelectron spectroscopy，XPS)驗證經CV不同掃描圈數所得之rGO的碳含量。 當GO層數越來越多時，介電層的整體折射率以及厚度造成SPR角往大角度移動，降低漸逝波與表面電漿波的耦合效率。經過電化學法還原GO後，rGO的SPR角將會往小角度移動，且SPR曲線也會因此變得比較窄以及SPR耦合效率提升。