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    以拉曼散射光譜分析氮化鎵與碳化矽薄膜之應變分佈
    (2012) 鍾佩君; Pei-Chun Chung
    我們測量氮化鎵與碳化矽薄膜的拉曼散射光譜，研究薄膜的晶格結構，並以直線掃描方式測量薄膜截面的拉曼散射光譜，分析拉曼特徵峰參數隨距離薄膜表面不同深度的變化，進一步建立膜厚與應變、殘餘應力的相關性。 首先，7.6 micrometre厚度氮化鎵薄膜的拉曼散射光譜顯示兩個顯著特徵峰(E2(high)與A1(LO)對稱性振動模)，其頻率位置約為569 cm-1與739 cm-1，截面光譜顯示五個一階拉曼活性振動模，E2(low)、A1(TO)、E1(TO)、E2(high)、及E1(LO)拉曼特徵峰的頻率位置約為143 cm-1、531 cm-1、558 cm-1、567 cm-1及740 cm-1，這意味著，氮化鎵薄膜屬於六方烏采晶格結構。而5.0 micrometre厚度碳化矽薄膜表面與截面的拉曼散射光譜皆顯示TO與LO對稱性振動模，其頻率位置約為796.1 cm-1與970.5 cm-1，代表碳化矽薄膜為立方晶系結構。 接著，我們以直線掃描方式測量薄膜截面的拉曼散射光譜，發現7.6 micrometre厚度的氮化鎵薄膜之E2(high)對稱性振動模與5.0 micrometre厚度的碳化矽薄膜之TO振動模愈接近基板界面，其頻率位置展示藍移現象；反之，4.0 m厚度、及摻雜矽之4.0 micrometre與2.0 micrometre厚度氮化鎵薄膜之E2(high)對稱性振動模顯示紅移現象。 氮化鎵薄膜的E2(high)振動模出現紅移現象，代表薄膜內部存在伸張應變，此時薄膜與基板的晶格常數不匹配對薄膜應變影響較明顯；若是薄膜的E2(high)振動模出現藍移現象，則表示薄膜內部存在壓縮應變，此結果表示熱膨脹係數對應變的影響較顯著。氮化鎵薄膜與藍寶石基板交界面的應變量值約為8.0 × 10-4 ～ 1.16 × 10-3 。而碳化矽薄膜的TO振動模出現藍移現象，此與碳化矽薄膜的沉積溫度與速率有關，其與矽基板交界面處的應變量值約為1.78 × 10-4。
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    企業職能本位人才甄選之個案研究
    (2006) 鍾佩君; Pei-Chun Chung
    本研究目的在於探討企業運用職能甄選人才的理念與作法，並歸納其成功因素，以供企業有效發展及運用職能本位人才甄選與學術界後續研究之參考。藉由質化研究中的多重個案研究策略探討四家個案公司，將其運用職能本位人才甄選的實際情況，透過個案訪談方式，蒐集資料、並整理分析與討論，歸納出本研究結果。本研究結論為：（1）企業了解職能運用的範疇與分類的準則，可以更清楚職能在組織中的意義及人才資源策略中的運用；（2）企業運用職能本位人才甄選主要目的在於希望藉由職能的清楚定義，而更能夠找到對組織契合的人才；（3）企業得以成功運用職能本位人才甄選之內涵，在於各人員的配合、軟硬體的結合、流程的安排、面談的熟稔度、以及最後用以印證的方式；（4）高階主管的支持、HR人員的專業、以及明確的篩選標準為企業運用職能本位人才甄選成功之關鍵。