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    微波陶瓷材料xLa(Mg1/2Sn1/2)O3-(1-x)La(Mg1/2Ti1/2)O3(x=0, 0.25, 0.5, 0.75, 1)與Re3Ga5O12 (Re=Nd, Sm, Eu, Dy)之兆赫光譜研究
    (2009) 陳詠謙; Yung-Chien Chen
    本實驗利用大孔徑光導天線激發兆赫波,並用自由空間電光取樣方法偵測兆赫波的時域訊號。我們分別對鎵石榴石陶瓷(Re3Ga5O12)與複合式鈣鈦礦陶瓷(xLa(Mg1/2Sn1/2)O3-(1-x)La(Mg1/2Ti1/2)O3)的介電特性進行研究;其中鎵石榴石陶瓷之A-site元素由不同的稀土族元素(Re = Nd、Sm、Eu、Dy)所置換,而複合式鈣鈦礦陶瓷之x代表錫原子的濃度(x = 0.00、0.25、0.50、0.75、1.00)。這兩組樣品之前都測過微波的拉曼散射光譜(Raman)及紅外光譜(Infrared),但分析後微波的介電損失都比紅外光譜的線性外插結果來的高一些,初步推測是樣品在製備過程中,晶粒與晶粒之間有一些孔洞、結構非有序或二次相產生,而造成樣品的非本質損失(Extrinsic loss)。因此我們利用兆赫波來測量樣品在0.1 ~ 1.0 THz範圍內的介電損失,發現兩組樣品在兆赫波段的數據都沒有吻合紅外光譜線性外插曲線的值,即驗證了這兩系列樣品在製備過程中或許都有一些孔洞、結構非有序或二次相而造成非本質損失的特性。

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