科技與工程學院

Permanent URI for this communityhttp://rportal.lib.ntnu.edu.tw/handle/20.500.12235/5

沿革

科技與工程學院(原名為科技學院)於87學年度成立,其目標除致力於科技與工程教育師資培育外,亦積極培育與科技產業有關之工程及管理專業人才。學院成立之初在原有之工業教育學系、工業科技教育學系、圖文傳播學系等三系下,自91學年度增設「機電科技研究所」,該所於93學年度起設立學士班並更名為「機電科技學系」。本學院於93學年度亦增設「應用電子科技研究所」,並於96學年度合併工教系電機電子組成立「應用電子科技學系」。此外,「工業科技教育學系」於98學年度更名為「科技應用與人力資源發展學系」朝向培育科技產業之人力資源專才。之後,本院為配合本校轉型之規劃,增加學生於科技與工程產業職場的競爭,本院之「機電科技學系」與「應用電子科技學系」逐漸朝工程技術發展,兩系並於103學年度起分別更名為「機電工程學系」及「電機工程學系」。同年,本學院名稱亦由原「科技學院」更名為「科技與工程學院」。至此,本院發展之重點涵蓋教育(技職教育/科技教育/工程教育)、科技及工程等三大領域,並定位為以技術為本位之應用型學院。

107學年度,為配合本校轉型規劃,「光電科技研究所」由原隸屬於理學院改為隸屬本(科技與工程)學院,另增設2學程,分別為「車輛與能源工程學士學位學程」及「光電工程學士學位學程」。

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    影像處理應用於矩陣LED瑕疵檢測之研究
    (2018) 張先任; Chang, Hsien-Jen
    矩陣發光二極體(Matrix Light Emitting Diode, Matrix LED)是業界應用最廣泛的LED材料之一。因為矩陣LED是個低單價的產品,加上檢測機台成本太高,使得廠商購買意願降低,所以矩陣LED瑕疵缺陷仍然由人工進行檢測。隨著人工成本提升和人工檢測的不穩定性,我們需要應用自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)解決矩陣LED瑕疵檢測的問題。在這本論文研究中,我們提出了一套有效的矩陣LED檢測系統。該系統提供三種檢測,第一為表面刮傷瑕疵、第二為RGB亮暗點檢測、第三為使用支援向量機(Support Vector Machine, SVM)進行亮暗點分析。 在表面刮傷瑕疵檢測主要由SURF (Speeded-Up Robust Features)特徵匹配結合透視變換進行圖像校正,然後在輪廓檢測部分本文使用FindContours函式,接著找出瑕疵邊緣使用Canny邊緣檢測,該方法的準確度可達98.00%,檢測每顆矩陣LED需花2.95秒。 RGB亮暗點檢測使用ROI擷取每顆LED後,使用cvAvgSdv函式計算R、G、B平均值,首先與前一顆LED進行G值的比較,將有色差LED檢測出來,最後與制訂範圍進行判斷,該方法的準確度可達到98.00%,實驗結果顯示,檢測每顆矩陣LED需花0.01秒。 最後,使用SVM結合HOG進行圖像分類,解決矩陣LED亮暗點的問題,其準確率可達98.33%,執行速度上,檢測每顆矩陣LED需花0.38秒。實驗結果顯示,所提出的方法是有效的,並勝過以前的方法。