科技與工程學院

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沿革

科技與工程學院(原名為科技學院)於87學年度成立,其目標除致力於科技與工程教育師資培育外,亦積極培育與科技產業有關之工程及管理專業人才。學院成立之初在原有之工業教育學系、工業科技教育學系、圖文傳播學系等三系下,自91學年度增設「機電科技研究所」,該所於93學年度起設立學士班並更名為「機電科技學系」。本學院於93學年度亦增設「應用電子科技研究所」,並於96學年度合併工教系電機電子組成立「應用電子科技學系」。此外,「工業科技教育學系」於98學年度更名為「科技應用與人力資源發展學系」朝向培育科技產業之人力資源專才。之後,本院為配合本校轉型之規劃,增加學生於科技與工程產業職場的競爭,本院之「機電科技學系」與「應用電子科技學系」逐漸朝工程技術發展,兩系並於103學年度起分別更名為「機電工程學系」及「電機工程學系」。同年,本學院名稱亦由原「科技學院」更名為「科技與工程學院」。至此,本院發展之重點涵蓋教育(技職教育/科技教育/工程教育)、科技及工程等三大領域,並定位為以技術為本位之應用型學院。

107學年度,為配合本校轉型規劃,「光電科技研究所」由原隸屬於理學院改為隸屬本(科技與工程)學院,另增設2學程,分別為「車輛與能源工程學士學位學程」及「光電工程學士學位學程」。

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    雷射光致奈米記錄點於鍺銻碲相變化材料之特性研究
    (2007) 張宏偉; Hong Wei Chang
    本實驗利用雷射光泵探系統(pump and probe laser system)於不同厚度之Ge2Sb2Te5相變化薄膜上寫下記錄點矩陣,欲分析在改變膜層厚度條件下,記錄點之光學反射訊號及表面形貌的改變。實驗中經由以下幾點進行分析:(a)、雷射光探測系統,可藉由光學反射強度進而了解記錄點不同相態(phase state)之改變關係;(b)、透過原子力顯微儀(atomic force microscopy),可知記錄點表面的形貌(surface topography)起伏與變化,藉此了解雷射光束對相變化材料造成之物理形變為何;(c)、透過導電式原子力顯微儀(conductive-atomic force microscopy),可知記錄點表面之導電性強弱,藉以分析不同相態之記錄點電性為何;(d)、透過歐傑能譜(Auger electron spectrum)分析,可對樣品表面進行元素成分分析,探討實驗中之表面氧化(surface oxidized)及不連續缺陷區域(defect of surface discontinuity)議題;(e)、透過加熱平台(heating stage),在加熱下進行原子力顯微儀掃描,可得不同溫度下,寫下記錄點表面變化情形及相變化薄膜電性之改變。