科技與工程學院

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沿革

科技與工程學院(原名為科技學院)於87學年度成立,其目標除致力於科技與工程教育師資培育外,亦積極培育與科技產業有關之工程及管理專業人才。學院成立之初在原有之工業教育學系、工業科技教育學系、圖文傳播學系等三系下,自91學年度增設「機電科技研究所」,該所於93學年度起設立學士班並更名為「機電科技學系」。本學院於93學年度亦增設「應用電子科技研究所」,並於96學年度合併工教系電機電子組成立「應用電子科技學系」。此外,「工業科技教育學系」於98學年度更名為「科技應用與人力資源發展學系」朝向培育科技產業之人力資源專才。之後,本院為配合本校轉型之規劃,增加學生於科技與工程產業職場的競爭,本院之「機電科技學系」與「應用電子科技學系」逐漸朝工程技術發展,兩系並於103學年度起分別更名為「機電工程學系」及「電機工程學系」。同年,本學院名稱亦由原「科技學院」更名為「科技與工程學院」。至此,本院發展之重點涵蓋教育(技職教育/科技教育/工程教育)、科技及工程等三大領域,並定位為以技術為本位之應用型學院。

107學年度,為配合本校轉型規劃,「光電科技研究所」由原隸屬於理學院改為隸屬本(科技與工程)學院,另增設2學程,分別為「車輛與能源工程學士學位學程」及「光電工程學士學位學程」。

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    運用波前修正於數位全像造影及其深度學習致動粒子偵測之研究
    (2020) 高揚傑; Gao, Yang-Jie
    本論文主要探討利用數位全像式的資料及波前修正技術於深度學習以影像辨識上的優勢,以達到三維粒子偵測之目的。在數位全像造影中,本文探討波前像差對於樣品資訊的影響及修正方法,以得到正確的物體資訊,同時運用數位全像資料擴增方法,來提升數據集的多樣性。而運用上述方法即可透過數位全像術取得粒子的波前繞射資訊,再運用深度學習於物件偵測的技術,藉由調整模型架構及參數,來使樣品偵測能力及辨識能力達到最大準確度,來進行三維空間位置定位及尺寸分類,以利未來透過數位全像顯微造影系統擷取其他樣品的光場資訊進行定位,增加未來應用的潛力。
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    具現場數位全像監控之雷射投影列印系統
    (2020) 林佑勳; Lin, Yu-Hsun
    本論文提出了一套結合全像條紋列印技術和數位全像術的雷射投影列印系 統 並且展示了相位閃耀光柵與一般繞射光柵的製造與分析。全像條紋列印技術,起初是為了解決 一般合成 全像列印術對環境穩定度的高度要求以及雷射直接寫入的設備昂貴問題,有別於 逐點 直接 寫入能量的雷射直寫系統,此系統是讓光束帶著從數位微鏡裝置投影出來的條紋影像,然後 轉印到光敏感介質上,以形成光折變光柵透過光學的分析,得以讓此系統的校正與設備需求上不需要過多資金的投入。最後,我們結合了數位全像術,得以檢測與分析列印完成之元件的相位分佈做為曝光條件的調整依據使我們可以列印出0到2π分佈 的純相位全像片來製造繞射元件,使整個系統的應用價值提高,最後我們會把一般全像條紋系統列印的繞射光柵與本論文所列印的閃耀光柵 做一系列的比較與分析。
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    具深度學習之數位全像顯微系統於玻璃基板瑕疵檢測
    (2018) 蔡昕澔; Cai, Sin-Hao
    本論文主要探討運用深度學習在玻璃基板瑕疵檢測的技術及利用數位全像顯微系統得到玻璃基板的複數影像進行瑕疵檢測,透過全像術取得玻璃基板的光學繞射資訊,其中複數影像包含振幅資訊及相位資訊,用深度學習進行學習背景、灰塵、刮痕、污漬、棉絮及水痕的振幅資訊及相位資訊之特性,更進一步探討各種瑕疵之間的差異、特性及辨識結果。在全像術和深度學習的運用,本研究會探討調整參數及改進流程達到檢測系統的辨識正確率最大化,以及影像校正方面使得可以得到品質穩定的複數影像,以利未來可以推廣到透過數位全像顯微系統擷取其他材料的光場資訊進行檢測,增加未來應用層面的潛力。
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    運用點矩陣全像片呈現擴增實境之研究
    (2014) 徐仲萱; Hsu, Chung-Hsuan
    擴增實境辨識圖案 (AR Marker) 大多以正方形的黑框呈現,有助於影像辨識以產生虛擬物件 (Virtual Object),但辨識圖案本身並非給人眼觀看,且影響了設計的美感。因此,本研究的目的為將具有變圖功能之點矩陣全像片與擴增實境辨識圖案結合,在正常觀看角度下顯示有意義之圖案,而在特定角度觀看則會顯現擴增實境辨識圖案並帶出擴增實境功能。此點矩陣全像片之設計,需在全像影像的彩色索引檔與灰階檔建立後,輸出不同角度及間距之光柵點,讓點矩陣全像片產生變圖的效果。結果發現,使用點矩陣全像片能夠成功觸發擴增實境效果,透過變圖功能可於同一張全像片上帶出不同的虛擬物件。另外,本研究也針對傳統的擴增實境辨識圖案與點矩陣全像片的擴增實境辨識圖案進行測試,將攝影機設置於不同的角度及不同的距離,比較兩者在何種條件下能成功地帶出擴增實境。最後,根據問卷調查的結果,發現相較於傳統的擴增實境辨識圖案,大部分的使用者較喜歡全像片的擴增實境辨識圖案。本研究成功的將點矩陣全像片與擴增實境結合,此項技術為世界首創,並且在未來更具備了發展的潛力。
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    全像術應用於製作光子晶體之研究
    (2006) 羅國彰; Kuo-Chang Lo
    本論文主要在探討利用全像術產生二維或三維週期性的干涉圖案,經曝光和顯影後,製作成光子晶體。首先我們以電腦模擬分析多道平面波干涉的光強度分佈,探討平面波的各項參數對干涉光強度分佈的影響,如光束間的夾角、光波波長對干涉圖案週期的影響,及入射光波強度比對干涉光強度分佈之闗係等,以作為設計光子晶體結構時的重要參考依據;同時我們亦設計並架設一套全像光學干涉系統,以實驗驗證理論的模擬與分析,實際製作出二維的光子晶體結構。此外,我們提出一個簡易的光學檢測方法,可即時觀測所製作的光子晶體之結構與週期。